Універсальний скануючий електронний мікроскоп, EVO 15, ZEISS

ZEISS EVO — це сімейство універсальних скануючих електронних мікроскопів (SEM), побудованих на модульній платформі для широкого спектру дослідницьких і промислових задач. Система поєднує стабільну якість зображення, гнучкість конфігурації та інтуїтивно зрозуміле управління.

EVO орієнтована на користувачів, яким потрібен надійний інструмент для щоденної роботи — від рутинного контролю якості до прикладних досліджень у матеріалознавстві, промисловості та природничих науках. Завдяки підтримці різних вакуумних режимів система дозволяє ефективно працювати як з провідними, так і з непровідними, вологими або забрудненими зразками без складної підготовки.

Ключові можливості

• Стабільна SEM-візуалізація з роздільною здатністю на нанометричному рівні
• Модульна платформа з можливістю налаштування під конкретні задачі
• Ефективна робота з непровідними зразками
• Підтримка автоматизованих процесів зйомки та аналізу
• Зручний інтерфейс для користувачів різного рівня підготовки

Технології

• Variable Pressure (VP): робота з непровідними зразками без необхідності напилення
• Extended Pressure (ESEM): дослідження вологих і біологічних зразків у близьких до природних умовах
• LaB6 джерело електронів: підвищена яскравість пучка та покращений контраст
• Beam Deceleration: підвищення поверхневої чутливості та зменшення впливу пучка на зразок
• EDS/EBSD: елементний і кристалографічний аналіз матеріалів

Застосування

• Контроль якості та інспекція виробництва
• Аналіз матеріалів і сплавів
• Дослідження напівпровідників та електронних компонентів
• Геологія та аналіз сировини
• Біологічні та природничі дослідження

Переваги

• Універсальність: одна платформа для різних задач і типів зразків
• Простота використання: підходить як для досвідчених користувачів, так і для новачків
• Гнучкість: широкий вибір конфігурацій і додаткових модулів
• Робота з реальними зразками: мінімальні вимоги до підготовки матеріалу