Система надвисокої роздільної здатності, Lattice SIM 3, ZEISS

Система надвисокої роздільної здатності ZEISS Lattice SIM 3

ZEISS Lattice SIM 3 — це система мікроскопії на базі структурованого освітлення (SIM), оптимізована для швидкого 3D-дослідження великих біологічних зразків.

Система забезпечує високоякісне оптичне секціонування, велике поле огляду та делікатні умови роботи з живими зразками. Вона ідеально підходить для дослідження багатоклітинних систем, тканин і модельних організмів.

Ключові можливості

• Візуалізація з роздільною здатністю до ~140 нм.
• Швидке 3D-сканування великих об’ємів.
• Велике поле зору з можливістю переходу до окремих ділянок (ROI).
• Делікатна зйомка живих зразків із мінімальним фотопошкодженням.
• Оптичне секціонування з майже ізотропною роздільною здатністю.

Технології

• Lattice SIM: метод структурованого освітлення для підвищення роздільної здатності.
• SIM Apotome: швидке оптичне секціонування великих об’ємів.
• SIM² реконструкція: покращення деталізації та якості зображень.
• Leap mode: прискорене отримання зображень.

Застосування

• Дослідження ембріонального розвитку.
• Аналіз органоїдів та 3D-клітинних культур.
• Візуалізація тканинних зрізів.
• Дослідження міжклітинної взаємодії.
• Функціональна біологія багатоклітинних систем.

Переваги

• Системний баланс: велике поле зору та надвисока деталізація.
• Продуктивність: оптимізовано для роботи з великими об’ємами.
• Дбайливе дослідження: мінімальний вплив на живі зразки.
• Гнучкість: вибір між швидкістю та роздільною здатністю.
• Універсальність: робота з живими та фіксованими зразками.