Система сверхвысокого разрешения, Lattice SIM 3, ZEISS
Полная гарантия 12 месяцев
Ремонт, замена деталей, техподдержка 24/7
Контроль качества
Проверка в реальных производственных условиях
Установка и настройка
Настройка и проверка работоспособности оборудования
Обучение персонала
Обучение операторов работе с оборудованием и практическая демонстрация функционала.
Описание оборудования
Система сверхвысокого разрешения, Lattice SIM 3, ZEISS
Система сверхвысокого разрешения ZEISS Lattice SIM 3
ZEISS Lattice SIM 3 — это система микроскопии на основе структурированного освещения (SIM), оптимизированная для быстрого 3D-исследования крупных биологических образцов.
Система обеспечивает высококачественное оптическое секционирование, большое поле зрения и щадящие условия работы с живыми образцами. Она идеально подходит для изучения многоклеточных систем, тканей и модельных организмов.
Ключевые возможности
- Визуализация с разрешением до ~140 нм.
- Быстрое 3D-сканирование больших объемов.
- Большое поле зрения с возможностью выбора области интереса (ROI).
- Щадящая съемка живых образцов с минимальным фотоповреждением.
- Оптическое секционирование с почти изотропным разрешением.
Технологии
- Lattice SIM: метод структурированного освещения.
- SIM Apotome: быстрое секционирование больших объемов.
- SIM² реконструкция: улучшение качества изображений.
- Leap mode: ускоренная съемка.
Применение
- Исследование эмбрионального развития.
- Органоиды и 3D-культуры клеток.
- Визуализация тканей.
- Изучение межклеточных взаимодействий.
- Биология многоклеточных систем.
Преимущества
- Системный баланс: большое поле зрения и высокая детализация.
- Скорость: оптимизация под большие объемы.
- Бережное воздействие: минимальное влияние на образцы.
- Гибкость: выбор режимов работы.
- Универсальность: живые и фиксированные образцы.
Характеристики
Система сверхвысокого разрешения, Lattice SIM 3, ZEISS
|