Многолучевой сканирующий электронный микроскоп, MultiSEM 706, ZEISS

ZEISS MultiSEM 706 — это многолучевой сканирующий электронный микроскоп, созданный для сверхбыстрого автоматизированного получения изображений на нанометровом уровне. В отличие от классических SEM-систем, MultiSEM использует 91 электронный пучок, работающий параллельно, благодаря чему обеспечивает исключительно высокую скорость съёмки больших площадей и объёмов образцов.

Система ориентирована на задачи, где важно не только увидеть мелкие структуры, но и сохранить макроскопический контекст образца. MultiSEM 706 сочетает высокую пропускную способность, автоматизированные процессы съёмки, стабильную непрерывную работу 24/7 и возможность получения больших массивов данных для последующего анализа и 3D-реконструкции.

Ключевые возможности

• Многолучевая SEM-платформа с 91 параллельным электронным пучком
• Сверхбыстрое получение изображений при нанометровом разрешении
• Автоматизированная съёмка больших площадей и серийных срезов
• Работа с крупными образцами без потери мелких деталей
• Стабильная непрерывная эксплуатация в режиме 24/7

Технологии

• Multi-beam technology: 91 электронный пучок и параллельная многоканальная детекция для резкого увеличения скорости съёмки
• Parallel acquisition: одновременное формирование множества субизображений с последующим автоматическим объединением в единое поле
• ZEN for MultiSEM: программная среда для управления микроскопом, автоматизации экспериментов и работы с большими массивами данных
• Automated Section Detection: автоматическое обнаружение серийных срезов и быстрое построение рабочего процесса
• Intelligent Retake Manager: контроль полноты данных и повторная досъёмка отдельных участков без нарушения целостности набора данных

Применения

• Коннектомика и крупномасштабное картирование мозга
• Серийные срезы и 3D-реконструкция ультраструктуры тканей
• Микроэлектроника, интегральные схемы и обратное проектирование
• Исследование батарей, материалов и полированных геологических образцов
• Высокопроизводительная съёмка больших площадей для статистически значимого анализа

Преимущества

• Сверхвысокая скорость: принципиально новый уровень производительности по сравнению с однолучевыми SEM
• Сочетание масштаба и детализации: большие площади образца при нанометровом разрешении
• Автоматизация: минимизация ручных операций при работе с большими сериями данных
• Идеально для больших массивов данных: оптимально подходит для высокопроизводительных и длительных проектов
• Инфраструктурный инструмент: решение для лабораторий и центров, где критически важны скорость, масштаб и воспроизводимость