Универсальный сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией, GeminiSEM 360, ZEISS

ZEISS GeminiSEM — это семейство полево-эмиссионных сканирующих электронных микроскопов (FE-SEM), разработанных для самых высоких требований к субнанометровой визуализации, аналитике и гибкой работе с образцами. Система сочетает сверхвысокое разрешение, эффективную детекцию сигналов и широкие возможности конфигурации для сложных научных и прикладных задач.

GeminiSEM ориентирована на пользователей, которым требуется не только высококачественная электронная визуализация, но и максимально полная характеристика образца — от топографии поверхности до материального контраста, элементного состава, кристаллографии и структурных особенностей на наноуровне. Благодаря технологии ZEISS Gemini electron optics, внутриколонной Inlens-детекции, развитой аналитической конфигурации и поддержке работы со сложными, чувствительными и непроводящими образцами система обеспечивает стабильно высокий результат в широком спектре применений.

Ключевые возможности

• Полево-эмиссионная FE-SEM платформа для субнанометровой визуализации и расширенного анализа
• Высокое разрешение при низких ускоряющих напряжениях, включая режимы ниже 1 кВ
• Гибкое сочетание топографической, материальной, элементной и кристаллографической информации
• Эффективная работа с чувствительными, непроводящими, магнитными и сложными многокомпонентными образцами
• Поддержка автоматизированных процессов, корреляционной микроскопии, 3D STEM-томографии и экспериментов in situ

Технологии

• ZEISS Gemini electron optics: семейство электронно-оптических колонн Gemini 1, Gemini 2 и Gemini 3 для различных сценариев визуализации и анализа
• Inlens detection: высокоэффективная внутриколонная детекция вторичных и отражённых электронов для поверхностно-чувствительной визуализации и материального контраста
• NanoVP / Variable Pressure: режимы для исследования непроводящих и чувствительных образцов без потери качества изображения
• Smart Autopilot и Nano-twin lens: усовершенствованная электронная оптика для максимального разрешения и упрощения работы, в частности в GeminiSEM 560
• EDS / EBSD / WDS / aSTEM / Atlas 5 / ZEN core: расширенная экосистема для аналитики, корреляционной микроскопии, автоматизации, 3D-визуализации и работы с большими массивами данных

Применения

• Материаловедение, наноматериалы и функциональные поверхности
• Энергетические материалы, аккумуляторы, катализаторы, полимеры и композиты
• Промышленная микроскопия, анализ отказов, фрактография и металлография
• Электроника, полупроводники, анализ устройств и подповерхностных структур
• Биологические исследования, ультраструктура клеток и тканей, серийные срезы

Преимущества

• Премиальный класс FE-SEM: решение для задач, где требуются максимальная детализация, контраст и аналитическая гибкость
• Субнанометровое разрешение: сверхвысокое качество изображения даже при низких напряжениях
• Глубокая аналитика: сочетание SEM-визуализации с элементным, кристаллографическим и структурным анализом
• Гибкость семейства: конфигурации GeminiSEM 360, 460 и 560 позволяют подобрать систему под универсальные, аналитические или максимально поверхностно-чувствительные задачи
• Масштабируемость и расширяемость: поддержка дополнительных детекторов, автоматизации, мультимодальных и 3D-рабочих процессов