Ионно-электронный микроскоп, Crossbeam Samplefab, ZEISS

ZEISS Sigma — это семейство полево-эмиссионных сканирующих электронных микроскопов (FE-SEM), предназначенных для высококачественной визуализации и расширенного анализа. Система сочетает высокое разрешение, эффективную работу на низких ускоряющих напряжениях и гибкие возможности исследования для научных и прикладных задач.

Sigma ориентирована на пользователей, которым требуется не только SEM-визуализация, но и точная характеристика образцов на микро- и наноуровне. Благодаря электронной оптике ZEISS Gemini 1, широкому набору детекторов, поддержке режима переменного давления (Variable Pressure) и NanoVP lite система обеспечивает стабильные результаты даже при работе с деликатными, непроводящими или сложными образцами.

Ключевые возможности

• Полево-эмиссионная FE-SEM платформа для высокоразрешающей визуализации и анализа
• Высокое разрешение при низких напряжениях, включая режимы 1 кВ и ниже
• Расширенные возможности элементного, кристаллографического и морфологического анализа
• Эффективная работа с непроводящими образцами без обязательного напыления
• Поддержка автоматизированных процессов, анализа с использованием искусственного интеллекта и мультимодальной микроскопии

Технологии

• ZEISS Gemini 1 optics: электронная оптика с высоким разрешением, малым размером зонда и эффективной Inlens-детекцией
• Low-kV imaging: высокая детализация и контраст при низких ускоряющих напряжениях для поверхностно-чувствительной визуализации
• NanoVP lite: улучшенный режим переменного давления для анализа и съёмки непроводящих образцов с повышенным отношением сигнал/шум
• Flexible Detection: широкий выбор детекторов для получения топографической, композиционной и структурной информации
• ZEN core / RISE / SmartPI / Mineralogic: программная и аналитическая экосистема для корреляционной микроскопии, рамановской визуализации, анализа частиц и автоматизированной минералогии

Применения

• Материаловедение и наноматериалы
• Энергетические материалы, аккумуляторы, катализаторы, полимеры
• Биологические исследования
• Геология, минералогия и анализ природных ресурсов
• Промышленная микроскопия, анализ отказов, контроль качества и анализ частиц

Преимущества

• Высокий класс FE-SEM: переход от рутинной визуализации к наноуровневому анализу
• Эффективная работа на низких напряжениях: больше поверхностной информации и меньше повреждений образца
• Аналитическая гибкость: интеграция EDS, EBSD, WDS, Raman и других методов
• Работа со сложными образцами: эффективная визуализация непроводящих и чувствительных материалов
• Масштабируемость: конфигурации Sigma 360 и Sigma 560 позволяют адаптировать систему под задачи лаборатории