Универсальный сканирующий электронный микроскоп, EVO 25, ZEISS

ZEISS EVO — это семейство универсальных сканирующих электронных микроскопов (SEM), построенных на модульной платформе для широкого спектра научных и промышленных задач. Система сочетает стабильное качество изображений, гибкость конфигурации и интуитивно понятное управление.

EVO ориентирована на пользователей, которым необходим надёжный инструмент для повседневной работы — от рутинного контроля качества до прикладных исследований в материаловедении, промышленности и естественных науках. Благодаря поддержке различных вакуумных режимов система позволяет эффективно работать как с проводящими, так и с непроводящими, влажными или загрязнёнными образцами без сложной подготовки.

Ключевые возможности

• Стабильная SEM-визуализация с разрешением на нанометровом уровне
• Модульная платформа с возможностью настройки под конкретные задачи
• Эффективная работа с непроводящими образцами
• Поддержка автоматизированных процессов съёмки и анализа
• Удобный интерфейс для пользователей разного уровня подготовки

Технологии

• Variable Pressure (VP): работа с непроводящими образцами без необходимости напыления
• Extended Pressure (ESEM): исследование влажных и биологических образцов в условиях, близких к естественным
• Источник электронов LaB6: повышенная яркость пучка и улучшенный контраст
• Beam Deceleration: повышение чувствительности к поверхности и снижение воздействия пучка на образец
• EDS/EBSD: элементный и кристаллографический анализ материалов

Применения

• Контроль качества и промышленная инспекция
• Анализ материалов и сплавов
• Исследование полупроводников и электроники
• Геология и анализ сырья
• Биологические и естественнонаучные исследования

Преимущества

• Универсальность: одна платформа для различных задач и типов образцов
• Простота использования: подходит как для специалистов, так и для новичков
• Гибкость: широкий выбор конфигураций и дополнительных модулей
• Работа с реальными образцами: минимальные требования к подготовке материала